A state-of-the-art XPS system equipped with a UV source for UPS, a monoatomic ion gun and a gas cluster ion gun for depth profiling
Official title in French: Un système XPS de pointe équipé d'une source UV pour l'UPS, d'un canon à ions monoatomiques et d'un canon à agrégats gazeux pour le profilage en profondeur
EPFL-Scientific Equipment is acquiring an XPS system for open access by around 40 research groups, supporting diverse research with broad measurement capabilities and future upgrades.
- Deliverables
- Supply an XPS/UPS system with UV source, monoatomic ion gun and gas cluster gun for depth profiling.
- Contract
- Payment is due 30 days after acceptance; warranty is at least 24 months, extendable by three years.
- Eligibility
- Demonstrate comparable installations in top-level research laboratories and repair capability, including intervention within 72 hours.
- Award
- Technical evaluation carries 60%, financial evaluation 30% and general evaluation 10%.
- Watch out
- No price negotiation follows submission; late delivery may trigger compensation for financial loss or damages.
Documents for your bid
- 2626_30718_Mensi_XPS_XRDSAP_CdC.zipTender documents · 612 KB
Key dates
- 12.09.2026Published on simap.ch
- 06.10.2026Questions round
- 22.10.2026, 23:59Submission deadline
The full analysis of this tender
Detailed scope
A structured view of services, requirements and deadlines.
Buyer review
Context on the procurement and the published information.
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Notice text
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Unofficial reproduction. The French text below is taken unchanged from SIMAP notice no. 44048. Only the official notice is binding.
L'Institut des sciences et ingénierie chimiques (ISIC) de l'École polytechnique fédérale de Lausanne (EPFL) souhaite acquérir un système XPS de pointe équipé d'une source UV pour l'UPS, d'un canon à ions monoatomiques et d'un canon à agrégats gazeux pour le profilage en profondeur. L'instrument sera en accès libre et servira environ 40 groupes de recherche, principalement de l'ISIC et de l'Institut des sciences et ingénierie des matériaux (IMX), ainsi que d'autres utilisateurs de l'ensemble de l'EPFL. Dans ce contexte multi-utilisateurs, une manipulation aisée de l’instrument et de son logiciel, un faible risque de mauvaise manipulation, des artefacts de mesure limités, ainsi qu'une rotation rapide et efficace entre utilisateurs sont des prérequis essentiels. En raison de la grande diversité des recherches menées à l'EPFL, l'instrument choisi devra offrir un large éventail de fonctionnalités. Il ne devra pas se limiter à un type particulier de mesure et devra rester ouvert à de futures mises à niveau et développements.