Attribution en attenteLaboratory, optical and precision equipment

Un système XPS de pointe équipé d'une source UV pour l'UPS, d'un canon à ions monoatomiques et d'un canon à agrégats gazeux pour le profilage en profondeur

L’essentiel en brefRésumé IA

EPFL-Scientific Equipment acquiert un système XPS en libre accès pour environ 40 groupes de recherche, offrant de vastes capacités de mesure et des évolutions futures.

Prestations
Fourniture d’un système XPS/UPS avec source UV, canon à ions monoatomiques et canon à agrégats gazeux pour le profilage en profondeur.
Contrat
Paiement 30 jours après réception; garantie d’au moins 24 mois, prolongeable de trois ans.
Aptitude
Justifier d’installations comparables dans des laboratoires de recherche de premier plan et d’une capacité de réparation avec intervention sous 72 heures.
Adjudication
L’évaluation technique compte pour 60%, l’évaluation financière pour 30% et l’évaluation générale pour 10%.
Points d’attention
Aucune négociation des prix après remise; un retard de livraison peut entraîner une indemnisation des pertes financières ou dommages.

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Dates clés

  1. 12.09.2026Publication sur simap.ch
  2. 06.10.2026Session de questions
  3. 22.10.2026, 23h59Délai de remise des offres

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Texte de la publication

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Reproduction non officielle. Le texte en français ci-dessous est extrait sans modification de la publication SIMAP n° 44048. Seule la publication officielle fait foi.

L'Institut des sciences et ingénierie chimiques (ISIC) de l'École polytechnique fédérale de Lausanne (EPFL) souhaite acquérir un système XPS de pointe équipé d'une source UV pour l'UPS, d'un canon à ions monoatomiques et d'un canon à agrégats gazeux pour le profilage en profondeur. L'instrument sera en accès libre et servira environ 40 groupes de recherche, principalement de l'ISIC et de l'Institut des sciences et ingénierie des matériaux (IMX), ainsi que d'autres utilisateurs de l'ensemble de l'EPFL. Dans ce contexte multi-utilisateurs, une manipulation aisée de l’instrument et de son logiciel, un faible risque de mauvaise manipulation, des artefacts de mesure limités, ainsi qu'une rotation rapide et efficace entre utilisateurs sont des prérequis essentiels. En raison de la grande diversité des recherches menées à l'EPFL, l'instrument choisi devra offrir un large éventail de fonctionnalités. Il ne devra pas se limiter à un type particulier de mesure et devra rester ouvert à de futures mises à niveau et développements.

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