ADRESS 2.0 Resonant Inelastic X-Ray Scattering instrument
Für die Soft-Röntgen-Beamline ADRESS 2.0 am Swiss Light Source 2.0 des Paul Scherrer Instituts wird ein neues Ultrahochvakuum-RIXS-Instrument benötigt. Es umfasst ein RIXS-Spektrometer und eine Probenkammer, deckt 250–1700 eV ab und muss um die Kammer um mindestens 130° drehbar sein.
Wichtige Punkte
- Liefergegenstand ist ein neues experimentelles Ultrahochvakuum-Instrument für Resonant Inelastic X-ray Scattering (RIXS).
- Das Instrument besteht aus einem RIXS-Spektrometer und einer RIXS-Probenkammer.
- Die ADRESS-2.0-Beamline deckt 250 eV bis 1700 eV ab und verfügt über variable Polarisationskontrolle.
- Das Spektrometer muss auf Luftkissen angehoben und auf einem Granitboden um die Probenkammer um mindestens 130° gedreht werden können.
Wichtige Termine
- 02.09.2026Publikation auf simap.ch
- 12.10.2026Fragerunde
- 21.10.2026, 10:00 UhrEingabefristFrist in 36 Tagen
- 21.10.2026, 09:00 UhrOffertöffnung
Die vollständige Ausschreibungsanalyse
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Text der Publikation
Nicht offizielle Wiedergabe. Der folgende Text auf Deutsch stammt unverändert aus der SIMAP-Publikation Nr. 43421. Ausschliesslich die offizielle Publikation ist massgebend.
For the activities at the soft x-ray beamline ADRESS 2.0 of the Swiss Light Source 2.0 (SLS 2.0) at the Paul Scherrer Institute a new experimental ultra-high-vacuum Resonant Inelastic X-ray Scattering (RIXS) instrument, consisting of a RIXS spectrometer and a RIXS sample chamber, is required. The ADRESS 2.0 beamline covers an energy range from 250 eV to 1700 eV with variable polarization control. The RIXS spectrometer needs to be designed to allow the possibility of being lifted by air-pads and rotated around the RIXS sample chamber on a granite floor with a range of ≥130 deg.