ADRESS 2.0 Resonant Inelastic X-Ray Scattering instrument
Das Paul Scherrer Institut beschafft ein neues Ultrahochvakuum-RIXS-Instrument für ADRESS 2.0 an der SLS 2.0, um resonante inelastische Röntgenstreuung an der neuen Weichröntgen-Strahllinie zu ermöglichen.
- Leistungen
- Das Instrument umfasst ein RIXS-Spektrometer und eine Probenkammer für 250 eV bis 1700 eV mit variabler Polarisation.
Wichtige Termine
- 12.10.2026Fragerunde
- 14.10.2026Publikation auf simap.ch (Korrektur)
- 02.11.2026, 23:59 UhrEingabefristFrist in 4 Tagen
- 03.11.2026, 09:00 UhrOffertöffnung
Die vollständige Ausschreibungsanalyse
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Prüfung des Auftraggebers
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Text der Publikation
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Nicht offizielle Wiedergabe. Der folgende Text auf Deutsch stammt unverändert aus der SIMAP-Publikation Nr. 43421. Ausschliesslich die offizielle Publikation ist massgebend.
For the activities at the soft x-ray beamline ADRESS 2.0 of the Swiss Light Source 2.0 (SLS 2.0) at the Paul Scherrer Institute a new experimental ultra-high-vacuum Resonant Inelastic X-ray Scattering (RIXS) instrument, consisting of a RIXS spectrometer and a RIXS sample chamber, is required. The ADRESS 2.0 beamline covers an energy range from 250 eV to 1700 eV with variable polarization control. The RIXS spectrometer needs to be designed to allow the possibility of being lifted by air-pads and rotated around the RIXS sample chamber on a granite floor with a range of ≥130 deg.